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ZUS5000
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ZDS3000/ZDS2000C
ZDS1000
配件
行業應用
技術參數和產品對比ZDS3000/2000C通用研發型示波器
通用研發型示波器通過“異常觸發 - 大數據捕獲 - 參數測量 - 波形搜索 -找到問題”的數據分析流程，幫助電子工程師迅速完成產品測試。
250M存儲深度
如果存儲深度能夠做到足夠大，就能保持較高的波形采樣率，則觀察到的波形會更加真實、細膩。反之，如果存儲深度只有1Mpts甚至更低，當要觀察時長較大的波形時，示波器就只能被迫降低采樣率。由于采樣點數不足，示波器顯示的波形也會嚴重失真，甚至產生波形混疊，誤導用戶測量分析。ZDS3000/2000C系列示波器創新性地采用DDR3存儲技術，配合大規模的FPGA器件，通過全硬件加速和多線程并行處理，存儲深度最高可達250M ！在觀察長時間波形時也不丟失波形細節。
協議解碼
在調試協議信號的時候，不僅需要觀測協議波形，還要將波形解碼成對應的數據。但一直以來各大品牌示波器的協議解碼功能都要付費選配的，而且只有寥寥幾種。ZDS3000/2000C系列示波器基于客戶需求免費配備了41/29種協議解碼，CAN、LIN、IIC、SPI、UART、USB、PS/2、DALI、Wiegand、1-Wire、DS18B20、HDQ、 SD_SPI、SD_SD、IrDA、Manchester、DiffManche、Miller、DHT11、 SHT11、 NEC、RC5、RC6、FlexRay等，除此之外，ZDS3000/2000C系列示波器還免費配備了CAN FD協議解碼，再一次定義了200M示波器！
33萬次/秒波形刷新率
由于波形合成器的實時處理能力和波形顯存的吞吐帶寬的技術限制，2000系列示波器的波形刷新率一般很低，波形觀測存在大量的死區時間，用戶也會因此錯過了許多波形細節，大大降低了工作效率。ZDS3000/2000C系列示波器研發團隊采用大規模FPGA，突破各個技術難點，每一行代碼都嘗試不同的實現方式，以尋求較佳效果。從剛開始的75K到150K、260K至最終的330K，不斷地突破自我、精益求精。更高的波形刷新率能夠讓用戶快速發現異常信號，大幅提高工作效率。
模板觸發
工程師在調試產品的時候，經常會遇到一些難以捕獲的信號。在對信號特性不了解的情況下，我們能否通過一種簡單易用的方法將其捕獲呢？研發團隊在示波器強大的觸發功能基礎上，添加了模板觸發功能。通過觸碰過濾原理，實現了可以隔離任何規律的異常信號的功能。使測試變得簡單，有趣。
4Mpts FFT分析
市面上多數2000系列示波器最大只支持8K樣本點的FFT分析，在1G采樣率的情況下，頻率分辨率僅有125KHz，多數情況都無法準確判斷信號頻譜分布。ZDS3000/2000C系列示波器拒絕單純的功能堆砌，內部采用了專業的處理芯片，突破技術壁壘，將FFT分析點數升級至4M樣本點，同樣在1G采樣率的情況下頻率分辨率能精確到250Hz，可以準確分析出電路中的干擾噪聲來源，大大提高了示波器FFT的實用價值。4Mpts FFT分析功能，不僅僅是在量上突破，而且還是在質上的飛躍。
支持50余種參數自動測量
僅僅通過波形的直觀表現來分析波形遠遠不夠，只有將波形各項指標精確量化，才能看透波形異常的本質。然而受限于架構和芯片限制，絕大多數示波器的參數測量都是基于采樣結果進行抽點，無論屏幕中有多少個信號周期，都僅僅抽取每屏中的一個周期信號進行統計測量，這也直接導致了結果的嚴重失真。為了實現意義的參數測量統計，我們采用FPGA進行全硬件加速，通過對屏幕上每一個周期信號的測量，計算出每一項指標的最大值，最小值，平均值，標準差，實現了意義參數測量功能，并且多達50余種。
波形搜索功能
在調試信號波形時，我們需要明確信號是否出現了異常。如果出現了異常，那這些異常信號出現的頻率是多少，是不是周期性出現的呢？為了弄清楚這些問題，一般需要長時間記錄波形，然后基于這樣一個龐大的波形數據庫去定位異常波形出現的位置。ZDS3000/2000C系列示波器依托于海量存儲和硬件加速的優勢，能夠從數十萬個波形中迅速定位出感興趣的信號，只要當前屏幕內出現了符合搜索條件的波形信號，系統都將自動地在對應位置做上標記，異常信號一覽無余。
環路測試
致遠電子ZDS3000系列示波器支持環路測試分析軟件。相對于幾十萬的專業環路分析儀器，內嵌的環路測試分析軟件不僅有完善的環路測試方法和精準的測量精度， 并且對測試操作和用戶體驗進行了創新性地設計。
電源分析
開關電源的質量直接影響到產品的技術性能以及其安全性和可靠性。電源測試項目多，計算量大，統計繁瑣等問題一直困擾著工程師們，為了解決這些問題，致遠電子在示波器中增加開關損耗、SOA、電感測試等電源分析功能。如在電感測試功能中可直接對電感、有功功率等項目進行計算，方便工程師快速、準確地測試電源產品。
開關損耗一鍵測量
PFC MOS管開關損耗測試是電源調試中的難點，由于不同周期的電壓和電流波形都不相同，功率損耗的準確評估也更依賴長時間高采樣率的波形捕獲，因此存儲深度和功率損耗運算原始點數成為開關損耗準確與否的關鍵。ZDS3024示波器標配250M存儲深度，并通過全硬件加速處理優化，可精準量化開關器件的功率損耗。
SOA安全工作區測試
開關器件長期承受較大功耗，一但過壓或過流就可能會導致器件損壞甚至爆炸。雖然器件手冊中明確標注了IDM和VDS各項參數，但常規調試手段無法對器件的整個工作周期進行評估。通過ZDS3024定制的SOA安全工作區測量功能，可以準確評估整個工作周期內開關器件的所有狀態，明確給出電源超出安全工作區的異常概率，便于工程師更好的評估電源工作穩定性。
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